Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами
|
|
| Creator |
Блецкан, Д.И.
Лукьянчук, А.Р. Пекар, Я.М. |
|
| Subject |
Материалы электроники
|
|
| Description |
Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках.
|
|
| Date |
2014-01-10T00:36:06Z
2014-01-10T00:36:06Z 2006 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами / Д.И. Блецкан, А.Р Лукьянчук.,Я.М. Пекар // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 59-64. — Бібліогр.: 29 назв. — рос.
2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52922 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
|
|
| Publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
|
|