Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації smc* фази у рідкому кристалі
Репозиторій ВНАУ
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації smc* фази у рідкому кристалі
|
|
| Creator |
Шевчук О.Ф.
|
|
| Subject |
Статті
2015 р./ Публікації співробітників у виданнях інших установ/ |
|
| Description |
Показано, що діелектрична спектроскопія сегнетолектричного рідкого кристалу (СЕРК) дозволяє встановити наявність SmC* фази, як у чистому СЕРК, так і при наявності домішки. Відзначено, що основними характеристиками SmC* фази є наявність відповідного релаксацийного процесу та стрибка провідності при зменшенні температури. |
|
| Date |
2015-11-30
2015-11-30 2015 |
|
| Type |
—
|
|
| Identifier |
http://repository.vsau.org/getfile/9622
|
|
| Language |
uk_UA
|
|
| Relation |
http://repository.vsau.org/card.php?id=9622
|
|