Метод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схем
Електронний архів E-archive DonNTU – (Electronic archive Donetsk National Technical University)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Метод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схем
|
|
| Creator |
Андрюхин, Александр Иванович
Andruckin, Alexandr Ivanovich |
|
| Subject |
switch
level CMOS diagnosis test random |
|
| Description |
À method for pseudorandom test generation on switch level is described. Experimental results of investigation on Iscas-89 circuits are presented to demonstrate the ef fectiveness of the proposed method.
|
|
| Date |
2012-01-27T13:17:55Z
2012-01-27T13:17:55Z 2011-01 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
0204–3572
http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4370 |
|
| Language |
other
|
|
| Publisher |
Electronic Modeling
|
|